超大规模集成电路测试

VLSI测试与可测性设计方法学已甄成熟，诸多理论和方法也为设计和制造界广泛受，亦成为EDA工具的基本特征。本书系统化编撰迄今为止主流的方法学与结构，为读者行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析下良好的基础，也为电路(包括电路级、芯片级和系统级)的设计、制造、测试和应用之间建立一个相互交流的平台。 本书主要内容包括电路测试基础，验证、模拟和仿真，自动测试生成，专用可测性设计，扫描设计，边界扫描法，*测试和伪*测试，内建自测试，电流测试，存储器测试，SoC测试。 本书既可作为高等院校高年级学生和研究生的专业课教材，也可作为从事集成电路设计、制造、测试、应用EDA和ATE专业人员的参考用书。