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电子元器件失效分析技术

电子元器件失效分析技术

恩云飞
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内容简介

本书是工程应用类书,主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容,使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念,技术和设备、方法和流程,指导展相关的失效分析工作,并了解失效预防的一些基本方法和手段。
【推荐语】
本书是电子产品质量和可靠性方面的专业类书籍,既有基础理论,又有具体技术、方法流程和应用,可以为电子行业的相关工程人员提供很好的指导和帮助。
【作者】
恩云飞,工业和信息化部电子第五研究所研究员,中国电子学会可靠性分会委员,中国电子学会真空电子分会委员,中国电子学会第八届理事会青年与志愿者工作委员会委员,广东省电子学会理事,《失效分析与预防》编委会委员,长期从事电子元器件可靠性工作,在电子元器件可靠性物理、评价及试验方法等方面取得显著研究成果,先后获省部级科技奖励10项,发表学术论文40余篇,申请及授权国家发明专利10余项。
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