半导体及后摩尔新材料太赫兹发射光谱

本书聚焦半导体材料和后摩尔新材料的太赫兹（THz）发射光谱技术，介绍THz发射光谱技术的原理、发展程以及系统应用，展示 THz 发射光谱技术应用于集成电路领域的巨大价值，旨在为实现集成电路先制程提供技术支撑和解决问题的思路。 本书主要内容包括半导体THz发射光谱起源、光学THz发射光谱物理基础、光学THz辐射实验技术、Ⅲ-Ⅴ族半导体驱动THz辐射、二维材料THz辐射、拓扑量子材料THz辐射、磁性材料THz辐射和激光THz发射显微镜。 本书主要面向物理学、化学、材料科学等领域的科研人员、研究生，以及对THz技术感兴趣的读者。
【推荐语】
立足底层技术，贯通THz发射光谱“理论-实验-应用”全条 系统梳理THz 发射光谱近半个世纪以来的技术发展历程 阐释THz发射光谱物理原理与技术演，涵盖极化电流、磁偶极子辐射等核心机制 提供芯片在线无损检测新方案，赋能集成电路、量子信息、材料工程等
【作者】
吴晓君 北京航空航天大学教授、博士生导师，德国洪堡学 者，美国光学学会会士（Optica Fellow），国 家级青年人才，青年北京学 者。主要从事高能强场太赫兹光源辐射理论、关键技术及应用研究工作，以第 一作者或通信作者身份在Nature Photonics、Nature Communications、Advanced Materials等SCI收录期刊发表论文80余篇，在国内外重要学术会议做大会报告40余次。获得国际红外毫米波太赫兹学会女科 学家奖、第 一届超快科学全球女科 学家奖、第 一届中国科技青年论坛一等奖和总论坛最高奖“科技新星奖”等荣誉和奖励。