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半导体器件物理(第2版)电子书

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作       者:刘树林等

出  版  社:电子工业出版社

出版时间:2015-09-01

字       数:27.3万

所属分类: 教育 > 大中专教材 > 研究生/本科/专科教材

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本书由浅深、系统地介绍了常用半导体器件的基本结构、工作原理和工作特性。为便于读者自学和参考,本书首先介绍了学习半导体器件必需的半导体材料和半导体物理的基本知识;然后重论述了PN结、双极型晶体管、MOS场效应管和结型场效应管的各项性能指标参数及其与半导体材料参数、工艺参数和器件几何结构参数的关系;*后简要讲述了功率MOSFET、IGBT和光电器件等其他常用半导体器件的原理及应用。<br/>【作者】<br/>刘树林:博士,西安科技大学教授、博士生导师,四川大学半导体物理专业本科毕业,航天部西安微电子研究所硕士、博士毕业。先后在西安电力电子研究所、中兴通讯股份有限公司、西安科技大学从事科研和教学工作。现任西安科技大学电气与控制工程学院副院长、“电力电子电路与系统科研创新团队”负责人、矿山机电工程博士学科带头人、微电子学与固体电子学学科带头人等。<br/>
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前言

主要常用符号说明

第1章 半导体物理基础

1.1 半导体晶体结构和缺陷

1.2 半导体的能带与杂质能级

1.3 半导体中的平衡与非平衡载流子

1.4 半导体中载流子的输运现象

1.5 半导体表面

思考题和练习题

第2章 PN结

2.1 平衡PN结

2.2 PN结的直流特性

2.3 PN结空间电荷区的电场和宽度

2.4 PN结的击穿特性

2.5 PN结的电容效应

2.6 PN结的开关特性

2.7金属-半导体的整流接触和欧姆接触

思考题与习题

第3章 双极型晶体管

3.1 晶体管的基本结构、制造工艺和杂质分布

3.2 晶体管的电流放大原理

3.3 晶体管的直流伏安特性曲线

3.4 晶体管的反向电流与击穿特性

3.5 晶体管的频率特性

3.6 晶体管的功率特性

3.7 晶体管的开关特性

3.8 晶体管的设计

思考题和习题

第4章 MOS场效应晶体管

4.1 MOS场效应晶体管的基本结构、工作原理和输出特性

4.2 MOS场效应晶体管的阈值电压

4.3 MOS场效应晶体管的直流电流-电压特性

4.4 MOS结构的电容-电压特性

4.5 MOS场效应管的交流小信号参数和频率特性

4.6 MOS场效应晶体管的开关特性

4.7 MOS场效应晶体管的二级效应

4.8 MOS场效应晶体管温度特性

思考题与习题

第5章 结型场效应晶体管及金属-半导体场效应晶体管

5.1 JFET及MESFET的结构、工作原理和分类

5.2 JFET的电流-电压特性

5.3 JFET的直流和交流小信号参数

5.4 JFET的高频参数

5.5 短沟道JFET和MESFET

思考题与习题

第6章 其他常用半导体器件

6.1 功率MOS场效应晶体管

6.2 绝缘栅双极晶体管(IGBT)

6.3 半导体光学效应及光电二极管

6.4 发光二极管

6.5 半导体激光器

思考题与习题

附录

参考文献

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