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内容提要
前言
本书内容
第1章 绪论
1.1 电路测试的意义
1.2 电路测试的分类及基本方法
1.3 自动测试设备
习题
第2章 数字集成电路测试基础
2.1 缺陷、错误和故障
2.2 单固定故障精简
2.3 多固定故障
2.4 故障淹没
习题
第3章 测试向量生成
3.1 自动测试向量生成
3.2 随机测试向量生成
3.3 模拟
3.4 实例
习题
第4章 可测性设计与扫描测试
4.1 可测性设计分析
4.2 扫描测试设计
4.3 全扫描设计
4.4 基于EDA工具的扫描设计
4.5 实例
习题
第5章 边界扫描测试
5.1 边界扫描基础
5.2 边界扫描结构
5.3 边界扫描描述语言
5.4 实例
习题
第6章 内建自测试
6.1 内建自测试概念
6.2 响应数据分析
6.3 内建自测试结构
6.4 实例
习题
第7章 存储器测试
7.1 存储器结构
7.2 存储器故障模型
7.3 存储器测试算法
7.4 存储器测试方法
7.5 存储器修复
7.6 实例
习题
参考文献
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