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丛书序
前言
第1章 可靠性物理的基本概念
1.1 可靠性物理的含义
1.2 失效及失效类型
1.3 可靠性物理及其发展
1.4 影响可靠性的关键因素
1.5 可靠性物理研究的内容及意义
参考文献
第2章 失效物理模型
2.1 界面模型
2.2 耐久模型
2.3 应力-强度模型
2.4 基于反应速度论的模型
2.5 最弱环模型
2.6 并联模型
2.7 累积损伤模型
2.8 竞争失效模型
主要符号表
参考文献
第3章 微电子器件失效机理及数理模型
3.1 工艺结构和工作原理
3.2 主要失效模式
3.3 失效机理及数理模型
英文缩略词及术语
主要符号表
参考文献
第4章 微波器件失效机理及数理模型
4.1 硅微波器件失效机理及数理模型
4.2 GaAs微波器件失效机理及数理模型
4.3 GaN微波器件失效机理及数理模型
英文缩略词及术语
主要符号表
参考文献
第5章 光电子器件失效机理及数理模型
5.1 半导体激光器的失效机理及数理模型
5.2 发光二极管的失效机理及数理模型
5.3 红外焦平面探测器的失效机理及数理模型
英文缩略词及术语
主要符号表
参考文献
第6章 高密度封装电路失效机理及数理模型
6.1 高密度封装电路结构
6.2 主要失效模式
6.3 失效机理及数理模型
英文缩略词及术语
主要符号表
参考文献
第7章 真空电子器件失效机理及数理模型
7.1 行波管失效机理及数理模型
7.2 速调管失效模式和失效机理
主要符号表
参考文献
第8章 MEMS失效机理及数理模型
8.1 MEMS结构特点及其工作原理
8.2 主要失效模式和失效机制
8.3 失效机理及数理模型
英文缩略词及术语
主要符号表
参考文献
第9章 电阻器失效机理及数理模型
9.1 工艺结构和工作原理
9.2 电阻器的主要失效模式
9.3 电阻器的失效机理及数理模型
参考文献
第10章 电容器失效机理及数理模型
10.1 电容器的工作原理和工艺结构
10.2 电容器的主要失效模式
10.3 电容器的失效机理及数理模型
参考文献
第11章 继电器、接插件失效机理及数理模型
11.1 工艺结构和工作原理
11.2 主要失效模式[2]
11.3 失效机理及数理模型[2]
英文缩略词及术语
主要符号表
参考文献
第12章 磁性元件失效机理及数理模型
12.1 工艺结构和工作原理
12.2 主要失效模式
12.3 失效机理及数理模型
主要符号表
参考文献
第13章 PCBA失效机理及数理模型
13.1 工艺结构和工作原理
13.2 主要失效模式
13.3 失效机理和数理模型
英文缩略词及术语
主要符号表
参考文献
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