数字射线检测技术电子书

前言

第1章 概述

1.1 数字射线检测技术的发展概况

1.2 数字射线检测技术与胶片射线检测技术的区别

1.3 数字射线检测技术基本理论

1.4 等价性问题

1.5 数字射线检测技术标准

复习题

第2章 辐射探测器与其他器件

2.1 辐射探测器概述

2.1.1 辐射探测器的类型（*）

*2.1.2 辐射探测器的一般特性

2.1.3 辐射探测器系统

2.2 辐射探测器系统的基本性能

2.3 分立辐射探测器（DDA）

2.3.1 非晶硅辐射探测器（*）

2.3.2 非晶硒辐射探测器

2.3.3 CCD或CMOS辐射探测器

2.3.4 分立辐射探测器的性能（*）

2.4 成像板系统（IP板系统）

2.4.1 IP板（*）

*2.4.2 IP板的主要特性

2.4.3 IP板系统的基本性能（*）

*2.5 图像增强器系统

*2.5.1 图像增强器的基本结构

*2.5.2 图像增强器系统的探测过程

*2.5.3 图像增强器系统的主要性能

2.6 A/D转换器

2.7 射线检测的像质计与线对卡

2.7.1 像质计概述

2.7.2 常规像质计

2.7.3 双丝型像质计（*）

*2.7.4 线对卡

复习题

第3章 数字射线检测基本理论

3.1 数字图像概念

3.1.1 数字图像的基本概念

3.1.2 数字图像的空间频率

**3.1.3 灰度

*3.1.4 数字图像文件格式

3.2 图像数字化基本理论

3.2.1 图像数字化过程

3.2.2 采样定理（*）

*3.2.3 量化位数

3.3 数字射线检测图像质量

3.3.1 检测图像对比度

3.3.2 检测图像空间分辨力（*）

3.3.3 检测图像信噪比（*）

3.4 检测图像与细节识别和分辨

3.4.1 检测图像与细节识别的关系（*）

3.4.2 检测图像与细节分辨的关系（*）

**3.5 细节可识别性理论关系式

复习题

第4章 数字射线检测基本技术

4.1 概述

4.2 探测器系统选择

4.2.1 探测器系统概述

4.2.2 探测器系统基本空间分辨力选择

4.2.3 规格化信噪比选择

4.3 数字射线检测透照技术

4.3.1 透照技术控制概述

4.3.2 最佳放大倍数（*）

4.3.3 源到工件表面的距离（*）

4.3.4 曝光曲线（*）

4.4 图像数字化参数控制

4.5 检测图像显示与缺陷评定技术

4.5.1 图像显示与观察条件（*）

4.5.2 图像观察识别技术

4.5.3 缺陷识别与质量级别评定

4.5.4 尺寸测量（*）

**4.5.5 厚度测定

4.6 数字射线检测图像质量控制

4.6.1 检测图像质量参数控制

4.6.2 图像质量的补偿规则（*）

*4.7 数字射线检测技术级别近似设计

*4.7.1 技术级别设计概述

*4.7.2 检测图像常规像质计指标近似设计

*4.7.3 检测图像不清晰度（空间分辨力）指标设计

*4.7.4 例题

4.8 数字射线检测技术稳定性控制

4.8.1 检测工艺文件（检测程序文件）

4.8.2 检测系统性能的长期稳定性试验控制

4.8.3 检测工艺卡编制

复习题

第5章 工业常用数字射线检测系统

5.1 概述

5.2 DR系统

5.2.1 DR系统组成

5.2.2 DR系统技术控制（*）

5.2.3 探测器响应校正与坏像素修正（*）

5.2.4 DR系统应用特点

5.3 CR系统

5.3.1 CR系统检测基本过程

5.3.2 CR系统技术控制

5.3.3 CR系统应用

*5.4 图像增强器数字射线检测系统

**5.5 微焦点数字射线检测系统

**5.6 底片图像数字化扫描技术

**5.6.1 扫描仪概述

**5.6.2 扫描仪的基本性能指标

**5.6.3 扫描技术

**5.6.4 扫描仪选用

复习题

第6章 等价性问题

6.1 等价性问题概述

6.2 等价技术级别评定

6.2.1 等价技术级别评定概述

*6.2.2 胶片射线照相检测技术的检测图像质量指标分析

*6.2.3 等价技术级别评定过程

*6.2.4 等价技术级别评定例题

**6.3 等价性问题的理论处理方法

复习题

第7章 实验

实验1 DDA基本空间分辨力测定

实验2 DDA规格化信噪比与曝光量平方根关系曲线测定

实验3 DDA像素尺寸对缺陷检测的影响

实验4 IP板图像读出扫描点尺寸对缺陷检测的影响

实验5 曝光量对检测图像质量的影响

实验6 最佳放大倍数试验

实验7 曝光曲线制作

实验8 图像软件使用

实验9 DDA数字射线检测系统使用

实验10 CR数字射线检测系统使用

附录

附录A 辐射探测器的基础性知识

A.1 辐射探测器的物理基础

A.2 半导体基本知识

A.3 构成辐射探测器的光电探测器件与材料

A.4 辐射探测器的一般特性

A.5 半导体探测器的辐射损伤

附录B 采样定理说明

B.1 采样概念

B.2 采样定理概念

B.3 采样定理讨论方法

B.4 采样定理确定方法

附录C 数字图像增强处理技术简介

C.1 概述

C.2 对比度增强处理

C.3 图像锐化处理

C.4 图像平滑处理

C.5 伪彩色处理

附录D 动态数字射线检测技术

D.1 检测图像不清晰度的一般考虑

D.2 动态检测方式几何不清晰度的考虑方法

D.3 动态检测方式的几何不清晰度

附录E 射线检测技术系统的调制传递函数

E.1 调制传递函数

E.2 线扩散函数、边扩散函数与不清晰度

E.3 矩形函数近似处理

E.4 指数函数近似——傅里叶变换理论处理

E.5 两种函数的比较

附录F 复习参考题答案

第1章 复习题参考答案

第2章 复习题参考答案

第3章 复习题参考答案

第4章 复习题参考答案

第5章 复习题参考答案

第6章 复习题参考答案

参考文献