X射线粉末衍射技术——测量与分析基础电子书

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内容简介

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前言

第1章　晶体与X射线衍射现象

1.1　晶体与非晶体

1.2　晶体的X射线衍射现象

1.3　X射线衍射现象的发现

1.4　X射线衍射现象的意义

1.5　X射线物相分析依据

1.6　X射线粉末衍射仪

小结

第2章　X射线粉末衍射功能与应用

2.1　物相鉴定

2.2　物相定量

2.3　结晶度分析

2.4　晶胞参数分析

2.5　固溶度分析

2.6　纳米晶粒尺寸与微观应变分析

2.7　残余应力分析

2.8　择优取向与织构分析

小结

第3章　X射线衍射仪与测量光路

3.1　衍射仪基本组成

3.2　衍射光路组成

3.3　X射线管

3.4　几何测角仪

3.5　探测器

3.6　光学元器件

3.6.1　索拉狭缝

3.6.2　发散狭缝、防散射狭缝、接收狭缝

3.6.3　滤光装置

3.6.4　其他光学元器件

3.7　常用样品台

3.7.1　平板样品台

3.7.2　自动进样器

3.7.3　微区样品台

3.7.4　多轴样品台

3.7.5　高温样品台

第4章　测量与参数

4.1　测量程序与参数

4.2　仪器参数

4.3　狭缝参数

4.4　样品制备参数

4.5　测量范围

4.6　测量速率

4.7　测量步长

4.8　测量模式

4.9　测量时间

4.10　薄膜掠入射参数

4.11　高温衍射参数

第5章　样品制备技术

5.1　样品制备影响因素

5.2　样品制备方法

5.3　粉末样品的粒度控制

5.4　自制标样

5.5　实例分析

第6章　物相定性分析

6.1　物相定义

6.2　PDF卡片与数据库

6.3　检索软件

6.3.1　软件定性检索原理

6.3.2　软件定性检索步骤

6.3.3　软件定性检索方法

6.4　物相定性分析判断依据

6.5　注意事项与常用技巧

第7章　物相定性结果评估

7.1　测量质量评估

7.2　数据平滑处理

7.3　本底与Kα2扣除

7.4　伪峰识别

7.5　定性分析影响因素

7.6　定性分析学习方法

7.7　常见问题实例

小结

第8章　物相定量分析

8.1　物相定量方法概述

8.2　参比强度法

8.3　公式类比与准确度

8.3.1　公式类比

8.3.2　定量准确度

8.4　参比强度法的限制与扩展

8.5　全谱拟合结构精修法

8.5.1　历史发展

8.5.2　Rietveld精修原理

8.5.3　Rietveld物相定量原理

8.6　Rietveld精修法定量实例

8.6.1　测量图谱和晶体文件输入

8.6.2　晶体基本参数编辑

8.6.3　拟合参数编辑

8.6.4　计算图谱与深度编辑

8.6.5　全谱拟合与定量

8.6.6　结果输出

第9章　衍射线形分析

9.1　衍射线形

9.2　纳米晶粒引起的半高宽

9.3　微观应变引起的半高宽

9.4　两种效应引起的综合半高宽

9.5　衍射线形与结晶度

9.6　拟合分峰处理

9.6.1　背景标定

9.6.2　拟合分峰

9.7　结晶度的计算方法

第10章　晶胞参数精密分析

10.1　晶胞参数简介

10.2　晶胞参数的计算方法

10.3　计算偏差的来源

10.4　计算偏差的控制

10.4.1　机械校正

10.4.2　测量方法校正

10.4.3　外推函数法校正

10.5　寻峰偏差

10.6　“线对法”计算晶胞参数

第11章　仪器维护与辐射安全

11.1　硬件维护

11.1.1　X射线管的日常维护

11.1.2　水冷系统的日常维护

11.1.3　测角仪的日常维护

11.1.4　样品台的日常维护

11.2　光路校准

11.2.1　单色器

11.2.2　测角仪零点

11.2.3　“切光法”光路校准

11.3　其他维护

11.4　X射线的电离辐射

11.5　电离辐射安全防护

第12章　学习方法论

12.1　常见概念与分类

12.1.1　散射与衍射

12.1.2　布拉格角与衍射角

12.1.3　物相分析与结构解析

12.1.4　理论学习与实践分析

12.2　衍射测量经验谈

12.2.1　关于X射线衍射仪

12.2.2　关于应用光路

12.2.3　关于数据分析软件

12.3　学习历程分享

12.4　六级阶梯

参考文献