SSD产品的快速增长和应用范围的不断扩大，对SSD产品本身的质量提出更高要求。再加上芯片国产化的大趋势，国内SSD测试的从业者越来越多，但是相关的图书却一直是空白。SSDFans（《深浅出SSD》的作者组织）是目前国内最大的SSD技术分享社区，核心成员都是国内外SSD大厂的在职人员，他们长期分享与SSD相关的各种技术，测试是他们分享内容中的重要板块。本书由SSDFans社区核心成员联合SSD测试领域执笔，分享自己多年的测试工作经验。本书有可能成为这一领域的标杆之作。
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致谢
第1章 SSD测试概览
1.1 SSD概述
1.1.1 SSD的基础知识
1.1.2 SSD的分类
1.1.3 SSD的发展趋势
1.2 SSD测试概览
1.2.1 SSD测试是什么
1.2.2 SSD测试的目的和重要性
1.2.3 SSD测试中的VU命令
1.2.4 SSD测试工程师的基本素养
1.2.5 测试团队的职能定位
1.2.6 SSD测试总结
第2章 SSD测试流程
2.1 测试立项阶段
2.1.1 BRD
2.1.2 MRD
2.1.3 PRD
2.2 测试计划阶段
2.2.1 测试需求分析
2.2.2 测试资源的准备
2.3 测试设计与开发阶段
2.3.1 测试用例与脚本的区别
2.3.2 测试用例设计
2.3.3 测试标准制定
2.3.4 脚本开发
2.3.5 测试工具开发
2.3.6 测试驱动开发
2.3.7 测试自动化开发
2.4 测试执行阶段
2.4.1 测试平台搭建
2.4.2 测试用例执行
2.4.3 测试缺陷管理
2.5 测试总结阶段
2.5.1 测试结果评审
2.5.2 遗留问题的跟踪与闭环
第3章 SSD测试管理
3.1 测试与固件的分工与合作
3.1.1 明确角色和责任
3.1.2 建立沟通机制
3.1.3 串讲与反串讲
3.1.4 测试标准意见一致
3.1.5 测试如何协同固件进行问题定位
3.1.6 客诉问题的处理
3.2 测试自动化
3.2.1 测试自动化的意义
3.2.2 测试平台管理
3.2.3 测试SSD盘片管理
3.2.4 测试资源自动化调度
3.2.5 测试问题单管理
3.2.6 持续集成自动化
3.3 生命周期维护管理
3.3.1 常见RMA失效模式
3.3.2 生命周期维护阶段的测试工作
第4章 SSD测试分类、设计与实现
4.1 SSD测试的分类
4.1.1 SSD白盒测试与黑盒测试
4.1.2 项目不同阶段的SSD测试
4.1.3 按照测试内容分类
4.2 SSD测试的设计与实现
4.2.1 SSD协议符合性测试与认证测试
4.2.2 SSD功能测试
4.2.3 SSD上下电测试
4.2.4 SSD性能测试
4.2.5 SSD兼容性测试
4.2.6 SSD压力测试
4.2.7 SSD功耗测试
4.2.8 SSD可靠性与数据保持测试
4.3 SSD生产阶段的测试
4.3.1 SSD生产阶段测试的内容
4.3.2 SSD生产阶段测试的流程
4.3.3 SSD生产阶段测试的监控
4.3.4 SSD生产阶段测试的工具与平台
4.3.5 SSD生产阶段测试与研发阶段测试的区别
4.4 SSD导入阶段的测试
4.4.1 消费级OEM SSD导入测试和厂商测试流程
4.4.2 企业级SSD产品导入测试和厂商测试流程
4.4.3 案例1：大普微R6100 PCIe 5.0 x4企业级SSD导入部分测试
4.4.4 案例2：江波龙企业级SSD厂商测试流程
4.5 SSD测试中的注意事项
4.5.1 针对SSD竞品的测试
4.5.2 SSD测试的核心：数据正确性
4.5.3 SSD测试的管理
4.6 SSD产品评测
4.7 案例：长江存储消费级PC41Q PCIe 4.0 x4 QLC SSD
4.7.1 X3-6070 QLC NAND
4.7.2 PC41Q PCIe 4.0 x4 QLC SSD
4.7.3 日常PC使用的存储负载分析
第5章 SSD测试工具和平台
5.1 测试的硬件平台
5.2 SSD测试软件
5.2.1 CrystalDiskMark
5.2.2 fio
5.2.3 PyNVMe3
5.2.4 测试软件对比
5.3 专业测试平台
5.3.1 研发测试和产品检测
5.3.2 研发测试的需求
5.3.3 测试平台介绍
5.3.4 专业测试平台的设计
5.4 PyNVMe3脚本开发
5.4.1 平台介绍
5.4.2 类和方法概述
5.4.3 驱动的特性
5.4.4 实例解析
第6章 主控芯片验证
6.1 主控芯片验证概述
6.2 硅前验证
6.2.1 FPGA原型验证
6.2.2 Emulator仿真加速器
6.2.3 硬件/软件联合仿真
6.3 硅后验证
6.3.1 PVT测试
6.3.2 PCIe接口验证
6.3.3 闪存接口验证
6.3.4 LDPC解码能力验证
6.3.5 DDR验证
6.3.6 电源轨及功耗验证
6.4 DFT与ATE
6.4.1 DFT
6.4.2 ATE
第7章 闪存及其测试
7.1 闪存概述
7.1.1 闪存组织结构
7.1.2 3D闪存未来发展之路
7.1.3 3D闪存发展的未来挑战
7.2 闪存失效模式
7.2.1 用户使用角度的闪存失效模式
7.2.2 内部角度的闪存失效模式
7.3 闪存测试
7.3.1 闪存芯片测试流程
7.3.2 闪存品质测试
7.3.3 闪存导入测试
7.3.4 闪存性能测试
7.3.5 闪存功耗测试
第8章 SSD相关测试认证
8.1 PCI-SIG合规性测试
8.1.1 物理层测试
8.1.2 协议测试
8.1.3 互操作测试
8.2 UNH-IOL的NVMe认证测试
8.3 WHQL测试与认证
8.3.1 WHCK与WHLK
8.3.2 WHLK测试平台架构
8.3.3 WHLK部署方案
8.3.4 WHLK搭建测试环境的步骤
8.4 雅典娜测试与认证
8.4.1 雅典娜计划
8.4.2 关键测试指标
8.4.3 RVP测试平台
8.4.4 测试内容举例
8.5 Chromebook测试与认证
8.6 国密认证
8.6.1 认证依据
8.6.2 认证模式
8.6.3 认证单元划分
8.6.4 认证实施
8.6.5 认证时限
8.6.6 认证证书
8.7 国内SSD测试标准
8.7.1 国家标准——GB/T 36355—2018
8.7.2 行业标准
第9章 SSD测试仪器与设备
9.1 SSD RDT可靠性测试设备
9.1.1 SSD RDT可靠性测试内容
9.1.2 全球SSD RDT可靠性设备行业标杆——爱德万MPT3000EV2
9.1.3 国产SSD RDT可靠性设备标杆——德伽G6508P
9.1.4 SSD RDT可靠性测试设备——鸾起Phoenix系列
9.2 SSD研发测试设备
9.3 PCIe协议分析仪和训练器
9.3.1 PCIe协议分析仪和训练器的功能
9.3.2 力科PCIe协议分析仪和训练器
9.4 误码仪和示波器等高速设备
9.5 功耗电源测试设备
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