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高速数字接口原理与测试指南电子书

  国内首本关于高速数字接口原理和测试的原创图书,由原安捷伦(Agilent)公司电子测量事业部的高速数字测试领域专家执笔,获得业内多位专家大力推荐,配有大量精美插图

售       价:¥

纸质售价:¥62.40购买纸书

275人正在读 | 2人评论 6.2

作       者:李凯

出  版  社:清华大学出版社

出版时间:2014-11-01

字       数:27.5万

所属分类: 科技 > 计算机/网络 > 硬件

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  本书结合作者多年从事高速数字设计和测试的经验,对高速数字信号的基本概念、测试原理进行讲解,同时结合现代计算机、移动设备、有线通信、航天设备里*的高速数字接口,对其关键技术、测试方法等做详细介绍和总结,以便于读者理解和掌握高速数字接口的基本原理、实现技术、测试理念以及其发展趋势。本书主要分为两个部分: 上半部分是高速数字信号的基本概念和测量原理; 下半部分是常用高速数字接口总线的技术特点和测试方法。本书可供从事计算机、移动终端、有线通信、航空航天设备开发的工程人员了解学习高速数字总线的相关技术,也可供高校工科电子类的师生做数字电路、信号完整性方面的教学参考。 本书结合作者多年从事高速数字设计和测试的经验,对高速数字信号的基本概念、测试原理行讲解,同时结合现代计算机、移动设备、有线通信、航天设备里*的高速数字口,对其关键技术、测试方法等做详细介绍和总结,以便于读者理解和掌握高速数字口的基本原理、实现技术、测试理念以及其发展趋势。本书主要分为两个部分: 上半部分是高速数字信号的基本概念和测量原理; 下半部分是常用高速数字口总线的技术特和测试方法。本书可供从事计算机、移动终端、有线通信、航空航天设备发的工程人员了解学习高速数字总线的相关技术,也可供高校工科电子类的师生做数字电路、信号完整性方面的教学参考。
【推荐语】
深浅出,阐述高速数字原理 追本溯源,探究测试方法精髓 图文并茂,剖析前沿测量方案 娓娓道来,洞察现代电子趋势 本书结合作者多年从事高速数字设计和测试的经验,对高速数字信号的基本概念、测试理念、测试方法及发展趋势行更深的解读和浅显易懂的阐释。本书可用于指导相关设计、发、测试人员的工作,也可供广大电子行业的技术爱好者做为科普读物了解当今电子系统的发展趋势。 本书的特是深浅出并结合实际应用。书中没有复杂的公式和数学推导,所有重要的概念都是结合实验和实测数据行生动的讲解,即使只掌握基本数字电路基础知识的本科生读起来也不会觉得费劲。本书的内容大多是现代高速数字电路最关键的技术,了解了这些技术的来龙去脉后,再深学习或阅读专业技术文章就会更加得心应手。由于作者多年的实际应用经验积累及悉心整理,书中还提供了大量精美图片,包括实际波形、测量数据、常用仪表、技术方案等,这些都和电子工程人员的日常实际工作息息相关,可以帮助读者直观了解到当今的技术发展水平及业界最领先的测试方法。
【作者】
李凯,毕业于北京理工大学光电工程系,硕士学位,曾在国内知名通信公司从事多年硬件研究。2006年加安捷伦公司,负责高端示波器、逻辑分析仪、信号完整性分析等高速数字测试产品的应用和研究。对于通信、计算机等行业有深认知,对信号完整性、嵌式系统、高速总线、可编程逻辑、时钟、电源等电路的设计和测试有深刻理解。作为高速数字测试领域的专家,李凯利用业余时间撰写了大量关于高速信号测量原理、测量方法的文章并发布在《国外电子测量技术》、《电子工程专辑》等专业杂志以及IEEE ICCP、EDI CON等专业论坛大会上,同时在EDN China网站设有个人技术博客。
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内容简介

序言

书评

前言

上部 高速数字信号测量原理

第1章 无处不在的数字接口

第2章 数字信号基础

2.1 什么是数字信号(Digital Signal)

2.2 数字信号的上升时间(Rising Time)

2.3 数字信号的带宽(Bandwidth)

2.4 数字信号的建立/保持时间(Setup/Hold Time)

2.5 并行总线与串行总线(Parallel and Serial Bus)

2.6 单端信号与差分信号(Single-ended and Differential Signals)

2.7 数字信号的时钟分配(Clock Distribution)

2.8 串行总线的8b/10b编码(8b/10b Encoding)

2.9 伪随机码型(PRBS)

2.10 传输线对数字信号的影响(Transmission Line Effects)

2.11 数字信号的预加重(Pre-emphasis)

2.12 数字信号的均衡(Equalization)

2.13 数字信号的抖动(Jitter)

2.14 扩频时钟(SSC)

第3章 数字测试基础

3.1 数字信号的波形分析(Waveform Analysis)

3.2 数字信号的眼图分析(Eye Diagram Analysis)

3.3 眼图的参数测量(Eye Diagram Measurement)

3.4 眼图的模板测试(Mask Test)

3.5 数字信号抖动的成因(Root Cause of Jitter)

3.6 数字信号的抖动分解(Jitter Seperation)

3.7 串行数据的时钟恢复(Clock Recovery)

3.8 示波器的抖动测量能力(Jitter Measurement Floor of Scope)

3.9 相位噪声测量(Phase Noise Measurement)

3.10 传输线的特征阻抗(Characteristic Impedance)

3.11 特征阻抗的TDR测试(Time Domain Reflectometer)

3.12 传输线的建模分析(Transmission Line Modelling)

第4章 实时示波器原理

4.1 模拟示波器(Analog Oscilloscope)

4.2 数字存储示波器(Digital Storage Oscilloscope)

4.3 示波器的带宽(Bandwidth)

4.4 示波器的频响方式(Frequency Response)

4.5 示波器带宽对测量的影响(Bandwidth Impact)

4.6 示波器的带宽增强技术(Bandwidth Enhancement Technology)

4.7 示波器的频带交织技术(Bandwidth Interleaving Technology)

4.8 示波器的采样技术(Sampling Technology)

4.9 示波器的分辨率(Vertical Resolution)

4.10 示波器的直流电压测量精度(DC Voltage Accuracy)

4.11 示波器的时间测量精度(Delta-Time Accuracy)

4.12 示波器的等效位数(ENOB)

4.13 示波器的高分辨率模式(High Resolution)

4.14 示波器的内存深度(Memory Depth)

4.15 示波器的死区时间(Dead Time)

4.16 示波器的显示模式(Display Mode)

4.17 示波器的触发(Trigger)

4.18 示波器的触发条件(Trigger Conditions)

4.19 示波器的触发模式(Trigger Mode)

4.20 示波器的测量速度(Measurement update rate)

附录 Agilent公司90000X系列高端示波器原理

第5章 示波器探头原理

5.1 高阻无源探头(High Impedance Passive Probe)

5.2 无源探头的常用附件(Passive Probe Accessories)

5.3 低阻无源探头(Low Impedance Passive Probe)

5.4 有源探头(Active Probe)

5.5 差分探头(Differential Probe)

5.6 电流探头(Current Probe)

5.7 高灵敏度探头(High-sensitivity Probe)

5.8 探头连接前端对测量的影响(Probe Head)

5.9 探头衰减比对测量的影响(Probe Attenuation Ratio)

5.10 探头的校准方法(Probe Calibration)

第6章 其他常用数字测量仪器

6.1 采样示波器(Sampling Oscilloscope)

6.2 矢量网络分析仪与TDR(VNA and TDR)

6.3 逻辑分析仪(Logic Analyzer)

6.4 协议分析仪(Protocol Analyzer)

6.5 误码分析仪(Bit Error Ratio Tester)

附录1 Agilent公司U4154A逻辑分析仪简介

附录2 示波器协议解码功能和协议分析仪的区别

第7章 常用测量技巧

7.1 电源纹波噪声测试方法

7.2 时间间隔测量

7.3 如何用示波器进行ps级时间精度的测量

7.4 怎样测量PLL电路的锁定时间

7.5 T型头和功分器的区别

7.6 如何克服测试电缆对高频测量的影响

第8章 用多台仪器搭建自动测试系统

8.1 自动化测试系统

8.2 LXI测试系统的硬件平台

8.3 LXI测试系统的软件架构

8.4 LXI测试系统的优点

8.5 LXI测试系统的兼容性问题

8.6 LXI测试系统的时钟同步

8.7 LXI测试系统的网络安全性

下部 高速数字接口及测试方法

第9章 PCI-E简介及信号和协议测试方法

9.1 PCI-E总线简介

9.2 PCI-E协会简介

9.3 PCI-E信号质量测试

9.4 PCI-E协议调试和测试

9.5 PCI-E测试总结和常见问题

第10章 PCI-E 3.0简介及信号和协议测试方法

10.1 PCI-E 3.0数据速率的变化

10.2 PCI-E 3.0发送端的变化

10.3 PCI-E 3.0接收端的变化

10.4 PCI-E 3.0信号质量测试

10.5 PCI-E 3.0接收端容限测试

10.6 PCI-E 3.0协议的测试

10.7 PCI-E 3.0测试总结及常见问题

第11章 SATA简介及信号和协议测试方法

11.1 SATA总线简介

11.2 SATA协会简介

11.3 SATA发送信号质量测试

11.4 SATA接收容限测试

11.5 SATA协议层测试和调试

11.6 SATA测试总结及常见问题

第12章 Ethernet简介及信号测试方法

12.1 以太网技术简介

12.2 10Base-T以太网测试项目

12.3 100Base-Tx以太网测试项目

12.4 1000Base-T以太网测试项目

12.5 10M/100M/1000M以太网的测试

12.6 10GBase-T的测试项目及测试

12.7 XAUI和10GBase-CX4测试方法

12.8 SFP+/10GBase-KR接口及测试方法

12.9 100G以太网标准及测试方法

12.10 100G及更高速率相干光通信测试方法

12.11 以太网测试总结及常见问题

第13章 MIPI D-PHY简介及信号和协议测试方法

13.1 MIPI简介

13.2 MIPI D-PHY简介

13.3 MIPI D-PHY信号质量测试

13.4 MIPI D-PHY的接收端容限测试

13.5 MIPI CSI/DSI的协议测试

13.6 MIPI D-PHY测试总结及常见问题

第14章 MIPI M-PHY简介及信号和协议测试方法

14.1 MIPI M-PHY简介

14.2 MIPI M-PHY的信号质量测试

14.3 MIPI M-PHY的协议解码

14.4 DigRF简介

14.5 DigRF物理层测试

14.6 DigRF协议层测试

14.7 MIPI M-PHY测试总结及常见问题

第15章 存储器简介及信号和协议测试

15.1 存储器简介

15.2 DDR简介

15.3 DDR信号的读写分离

15.4 DDR的信号探测技术

15.5 DDR的信号测试

15.6 DDR的协议测试

15.7 eMMC简介及测试

15.8 SD卡/UHS简介及测试

15.9 存储器测试总结及常见问题

第16章 USB 2.0简介及信号和协议测试

16.1 USB 2.0简介

16.2 USB 2.0的信号质量测试方法

16.3 USB 2.0信号质量测试中的测试模式设置

16.4 USB 2.0协议层调试方法

16.5 USB测试总结及常见问题

第17章 USB 3.0简介及信号和协议测试

17.1 USB 3.0简介

17.2 USB 3.0的发送端信号质量测试

17.3 USB 3.0信号质量测试中的测试码型和LFPS信号

17.4 USB 3.0的接收容限测试

17.5 USB 3.0的电缆、连接器测试

17.6 USB 3.0的协议测试

17.7 USB 3.0测试总结及常见问题

第18章 HDMI简介及信号和协议测试

18.1 数字显示接口

18.2 HDMI简介

18.3 HDMI发送信号质量测试

18.4 HDMI电缆和连接器的测试

18.5 HDMI接收容限测试

18.6 HDMI的协议层测试

18.7 HDMI 1.4 HEAC的测试

18.8 HDMI测试总结及常见问题

第19章 MHL简介及信号和协议测试

19.1 MHL简介

19.2 MHL发送信号质量测试

19.3 MHL接收容限测试

19.4 MHL的协议测试

19.5 MHL测试总结及常见问题

第20章 DisplayPort简介及信号测试

20.1 DisplayPort简介

20.2 DisplayPort发送信号质量测试

20.3 DisplayPort接收容限测试

20.4 DisplayPort电缆和连接器测试

20.5 MYDP简介及测试

20.6 DisplayPort测试总结及常见问题

第21章 LVDS传输系统简介及测试

21.1 LVDS简介

21.2 LVDS的数字逻辑测试

21.3 LVDS信号质量测试

21.4 LVDS互连电缆和PCB的阻抗测试

21.5 LVDS系统误码率测试

21.6 LVDS测试总结

第22章 MIL-STD-1553B简介及测试

22.1 1553总线简介

22.2 1553总线的触发和解码

22.3 1553总线的测试

22.4 1553总线的未来

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