SoC设计高级教程——技术实现电子书

内容简介

前言

第1章 电源管理

1.1 稳压器

1.1.1 线性稳压器

1.1.2 开关稳压器

1.1.3 电源监测与保护

1.2 电源管理设计

1.2.1 电源管理器件

1.2.2 电源管理电路设计

1.2.3 芯片电源供应

1.3 电源分配网络

1.3.1 电源分配网络的构成

1.3.2 电源分配网络的特性

1.4 电源完整性

1.4.1 电压波动及影响

1.4.2 电源阻抗

1.4.3 去耦电路

1.4.4 分层解耦

1.4.5 片上电源分配网络的电源完整性

小结

第2章 时钟和复位管理

2.1 SoC时钟管理

2.1.1 时钟抖动

2.1.2 PLL

2.1.3 SoC时钟架构设计

2.2 SoC复位管理

2.2.1 复位源

2.2.2 复位类型

2.2.3 SoC复位架构设计

2.2.4 复位域跨越

2.3 时钟和复位模块设计

小结

第3章 低功耗设计方法

3.1 系统级低功耗设计

3.1.1 评估芯片功耗

3.1.2 功耗管理

3.2 算法及架构级低功耗设计

3.2.1 算法级低功耗设计

3.2.2 架构级低功耗设计之一

3.2.3 架构级低功耗设计之二

3.3 寄存器传输级低功耗设计

3.4 综合中的低功耗设计

3.5 物理级低功耗设计

3.5.1 工艺选择

3.5.2 门级功耗优化

3.5.3 物理级功耗优化

小结

第4章 时序分析与签核

4.1 偏差与时序影响因素

4.1.1 偏差

4.1.2 工艺角

4.1.3 环境角

4.1.4 片上变化

4.1.5 串扰

4.1.6 IR压降

4.2 静态时序分析

4.2.1 时序路径分析模式

4.2.2 时序分析模式

4.3 基于变化感知的时序分析

4.3.1 AOCV

4.3.2 SOCV/POCV

4.4 芯片级设计约束

4.4.1 扁平式芯片级设计约束

4.4.2 模块级时序模型

4.4.3 裕量

4.5 时序签核

4.5.1 场景

4.5.2 信号完整性分析

4.5.3 电源完整性和功耗分析

4.5.4 时序收敛

4.5.5 ECO

小结

第5章 验证

5.1 SoC验证

5.1.1 验证方法

5.1.2 验证流程

5.1.3 验证计划

5.1.4 验证平台

5.1.5 验证层次

5.1.6 验证质量管控

5.2 IP和模块级验证

5.2.1 IP验证

5.2.2 模块级验证

5.3 系统级验证

5.4 门级验证

5.4.1 门级仿真的作用

5.4.2 不定态产生、传播和抑制

5.4.3 门级仿真方法

5.4.4 门级混合仿真

5.5 DFT验证

5.6 低功耗验证

5.6.1 电源意图规范验证

5.6.2 低功耗形式验证

5.6.3 低功耗仿真

5.7 ATE测试的仿真向量

5.8 通用验证方法学

5.8.1 验证技术的发展历程

5.8.2 UVM组件

5.8.3 UVM常用类的派生与继承

5.8.4 UVM验证平台运行机制

5.8.5 UVM结构与通信

小结

第6章 可测性设计

6.1 SoC测试

6.1.1 SoC测试方法与结构

6.1.2 SoC的DFT技术

6.2 扫描测试

6.2.1 嵌入式确定性测试

6.2.2 模块级扫描设计

6.3 内建自测试

6.3.1 MBIST电路

6.3.2 模块级MBIST设计

6.4 IP测试

6.4.1 IP的直接测试

6.4.2 基于IEEE标准的IP测试

6.4.3 高速和数模混合电路测试

6.4.4 先进DFT技术

6.5 SoC的DFT和实现

6.5.1 测试目标和策略

6.5.2 DFT技术应用

6.5.3 测试模式下的时钟设计

6.5.4 模块级DFT设计和实现

6.5.5 芯片级DFT设计和实现

小结

第7章 虚拟化设计

7.1 虚拟化

7.1.1 虚拟化技术基础

7.1.2 虚拟化技术

7.2 内存虚拟化

7.2.1 虚拟内存

7.2.2 处理器访问内存

7.2.3 设备访问内存

小结

第8章 安全设计

8.1 SoC安全设计

8.1.1 安全解决方案

8.1.2 TEE

8.1.3 信任根

8.1.4 安全启动

8.1.5 安全调试

8.1.6 安全岛

8.2 ARM TrustZone

8.2.1 处理器的安全设计

8.2.2 总线隔离机制

8.2.3 内存和外设隔离机制

8.3 RISC-V安全扩展

8.3.1 处理器的安全设计

8.3.2 隔离机制

小结